POMIAR NAŚWIETLANIA PRZEZ OBIEKTYW

Pomiar integracyjny (rysunek) jest oparty na innych założeniach.

Rysunek. Pomiar integracyjny. Podstawą pomiaru jest cała powierzchnia obrazu; lustro półprzezroczyste.

Kąt widzenia światłomierza zmienia się wraz ze zmianą ogniskowej obiektywu i jest zawsze równy kątowi widzenia obiektywu. Pomiar obejmuje tu całą powierzchnię obrazu taką, jak widzi się na matówce, a ponieważ obraz składa się z plam jasnych i ciemnych, wynik pomiaru daje wartość średnią.

Emulsja błony musi „kompromisowo” rejestrować całą skalę tonacji fotografowanego obiektu, otrzymuje się więc naświetlenie średnie, dotąd dobre, dopóki nie zostanie przekroczona maksymalna rozpiętość skali świateł i cieni, jaką potrafi oddać emulsja.

Pomiar integracyjny jest najczęściej stosowany w aparatach z pomiarem czasu naświetlania przez obiektyw.

Istnieje wiele rozwiązań takiego pomiaru czasu naświetlania, a to nie tylko zależnie od zastosowanej metody punktowej lub integracyjnej, ale również związanych z mechaniczną konstrukcją układu (rysunek).

Rysunek. Pomiar punktowo-integracyjny. Podstawą pomiaru jest mały wycinek pola obrazu, znajdujący się w polu matówki.

Coraz bardziej rozpowszechnia się kombinacja obu systemów; pomiar nie następuje ani w punkcie, ani na całej płaszczyźnie obrazu, lecz na małym jej wycinku, umieszczonym blisko środka matówki, a wynoszącym około 10—15% jej powierzchni. Łączy to zalety obu systemów.

Pionierami metod pomiaru czasu naświetlania przez obiektyw byli Japończycy (Beseler Topcon Super D i Topcon Auto 100); wprowadzili oni obie metody pomiaru, a często i ich kombinacje.

W Europie fabryki stosują z reguły pomiar integracyjny (z wyjątkiem aparatów Leitz Leicaflex i Zeiss Ikon Contarex Super, NRF), fabryka Pentacon w Dreźnie stosuje w serii Praktica pomiar integracyjny (Praktica Super TL, Praktica LTL, Praktica LLC,

przy tym ta ostatnia ma pomiar kombinowany z punktowym); również w aparacie Exakta RTL jest pomiar integracyjny.

W pomiarze światła przez obiektyw, zwanym w skrócie BTL (behind the lens: poza obiektywem) lub TTL (through the lens: poprzez obiektyw) brane jest pod uwagę stosowanie obiektywów wymiennych oraz filtrów. Również przy zdjęciach makrofotogra-ficznych, wymagających przeliczeń wartości przysłon (z uwagi na znacznie nieraz zwiększoną odległość obiektywu od matówki), przy użyciu aparatów z pomiarem czasu naświetlania przez obiektyw, następuje automatyczne uwzględnienie zmniejszonego otworu względnego przy zastosowanej przysłonie.

Pociąga to za sobą dalsze skomplikowanie budowy aparatu. Zalety pomiaru przez obiektyw, w okresie powszechnego stosowania obiektywów wymiennych, są tak znaczne, że system ten przyjmuje się powszechnie.

Metoda elektrycznego sterowania czasem naświetlania przy pomocy urządzenia elektronicznego wbudowanego w migawkę została już zastosowana w niektórych aparatach europejskich (Praktica LLC, LTL, Pentacon NRD, Conitarex elektronie Zeiss Ikon NRF i inne). Zapewnia ona maksymalną dokładność całkowicie automatycznego pomiaru światła wpadającego do obiektywu, ale wymaga skomplikowanego urządzenia elektronicznego wbudowanego w aparat.